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IC视觉定位及外观检测的研究与开发

深圳市浦洛电子科技有限公司

发布时间:2020-07-06

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项目简介

本项目基于传统机器视觉及AI技术的有机结合,开展IC外观检测、引脚检测、亚像素定位等机器视觉的算法、光学技术等领域的技术攻关。研发具有深度学习的机器视觉系统以满足智能装备的需要,主要研究内容:

1.基于AI的IC外观陷检测视觉系统研发:对于智能装备,机器视觉无处不在:IC外观检测、引脚检测、一键设定、Socket有无IC判定、取料失败状态判定等都离不开视觉技术的支持。对于不同类型的吸嘴、IC、Socket等复杂的外部环境,而高速、高精度、高可靠性的技术要求,基于AI技术IC外观缺陷的京训练模型及算法研究,并结合传统的基于规则的视觉算法实现IC外观检测。以达到IC外观缺陷异常检出率100%, 误判率<0.5%;

2.亚像素视觉高速定位系统开发:展开亚像素视觉定位系统的研究,基于目标的灰度分布特征、几何形状特征、几何与灰度耦合特征等与模板特征的分析、对比、识别等实现亚像素级的视觉定位。对棱镜等的光学应用研究,实现3D平面成像及检测,实现IC引脚的共面度检测。视觉定位精度<0.005mm。

研发瓶颈

1.图像处理的不确定性:很难在真正意义上实现批量化检测的同时保证极高的准确率,极小的误检率和杜绝漏检。

2). 字符识别:一些金属蚀刻、雕刻等字符的识别比较难。

3)在设计普适性的特征提取算法时对计算能力和存储速度的要求是十分巨大的,这就造成了开发成本的大幅度提高。

      43D检测目前在行业上还不精准。

期望合作方式

项目研发合作

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